مجتبی شهیدی ، از تولید «سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری نوری» در شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن خبر داد و اظهار کرد: دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری نوری ساخته شده توسط شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، نمونه‌ای بسیار توسعه‌یافته از ابزارهای اندازه‌گیری سه‌بعدی در مقیاس نانو بر پایه اپتیک است.
وی افزود: این دستگاه بر اساس پدیده تداخل و در دو مد تداخل‌سنجی میکروسکوپی نورسفید و تداخل‌سنجی جابه‌جایی فاز عمل کرده و شکل و ناصافی سطوح را با دقت نانومتر اندازه‌گیری می‌کند.
این مسئول ادامه داد: از آن‌جایی که دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری بر اساس نور کار می‌کند، روشی غیرتماسی، غیرمخرب و دقیق است و در مقایسه با دستگاه‌های با کاربری مشابه از هزینه کمتری برخوردار است. سرعت بالا، دقت و تکرارپذیری نانومتری از دیگر ویژگی‌های این محصول است. خروجی این دستگاه، ابر نقاط (رویه سه‌بعدی) از نمونه مورد آزمون، پارامتراهای سطح (شکل، میزان موج‌دار بودن و زبری) با دقت نانومتری است.
رئیس پارک علم و فناوری دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم‌پایه زنجان با بیان اینکه تعیین پارامترهای سطوح در بخش‌های متنوعی از علوم و صنایع نیاز است، تصریح کرد: به عنوان مثال علوم مکانیک، زیست‌شناسی، فیزیک و میکروالکترونیک نیاز مبرمی به این دستگاه برای تصویربرداری سه‌بعدی از نمونه‌های خود دارند. همچنین این دستگاه در صنایعی مانند متالورژی، مکانیک و صنایع تولید هواپیما، خودرو و توربین‌های بخار که بررسی خوردگی و ترک در قطعات آن‌ها از اهمیت ویژه‌ای برخوردار است، کاربرد دارد.
شهیدی یادآور شد: با توجه به سطح بالای فناوری مورد استفاده، این دستگاه در کشورهای معدودی از جمله آمریکا و آلمان تولید و به بازار عرضه می‌شود. دستگاه ساخته شده در شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، کامل‌ترین و دقیق‌ترین دستگاه از نوع خود در داخل کشور و منطقه بوده و از کیفیت و قیمت بسیار رقابتی در مقایسه با نمونه‌های مشابه خارجی برخوردار است.
وی عنوان کرد: همچنین مزیت رقابتی دستگاه سطح‌سنج نانومتری نوری را نسبت به دیگر دستگاه‌ها مانند AFM و انواع میکروسکوپ‌های روبشی تماسی که شامل غیرتماسی و غیرمخرب بودن، تعیین رویه سه‌بعدی نمونه به صورت یک‌جا، تعیین سه‌بعدی عوارضی مانند شکستگی‌ها، پله‌ها و تغییرات تند ارتفاعی در نمونه، تعیین دینامیک سه‌بعدی نمونه‌ها، سرعت داده‌برداری بالا نسبت به دیگر محصولات مشابه، تعیین شکل، موج‌دار بودن و زبری سطح نمونه با دقت نانومتری و قابلیت داده‌برداری از نمونه در حالت بازتابی حتی از نمونه‌های با بازتابندگی کم را می‌توان خلاصه کرد.
گفتنی است، ابزارهای اندازه‌گیری در مقیاس نانو به‌طور کلی بر دو پایه الکترونیک و اپتیک طراحی و ساخته می‌شوند. از میان میکروسکوپ‌هایی که بر پایه الکترونیک طراحی شده‌اند، می‌توان به میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ روبشی اشاره کرد که علی‌رغم ویژگی‌هایی که دارند با مشکلات تخریب‌کنندگی، سرعت پایین، وسعت دید پایین و هزینه بالا مواجه هستند. در مقابل، فناوری اندازه‌گیری بر پایه اپتیک ویژگی‌های سرعت بالا، وسعت دید و دقت بالا را به طور هم‌زمان دارد. همچنین این روش کاملاً غیرمخرب بوده، هیچ آسیبی به قطعه مورد اندازه‌گیری وارد نمی‌کند و می‌تواند تغییرات ارتفاعی تند را نیز اندازه‌گیری کند.
Thursday, 21 November , 2024